提供優(yōu)質測試探針批發(fā)和定制
當前位置：首頁 » POGO PIN充電彈簧頂針 » 彈針系列
產品型號：3.2*7.5帶尾彈針
所屬分類：電流探針
產品優(yōu)勢：產品定位精度高、產品過載穩(wěn)定、產品測試誤判率低
主要應用于：智能產品、藍牙耳機、藍牙手環(huán)
產品介紹：這個針通常用于智能手表，藍牙耳機上的有充電的功能，但是探針總體來說還是測試的
熱線電話：400-183-6682
深圳市華榮華電子科技有限公司 | ||
 | 總部地址：深圳市福田區(qū)華強電子世界三號樓一樓31C105 | |
 | 電話：400-183-6682 | |
| 移動電話： 13827455688 | ||
 | QQ:3079715728 | |
 | Email:hrhdz@163.com | |
上海市展銷部 地址：上海市寶山區(qū)羅店鎮(zhèn)羅太路869弄14棟65號101室 電話：021-6601 9558 傳真：021-6601 9558 手機：13611993783 QQ：4122 16547 |  | 東莞市展銷部 地址：東莞市賽格電子市場1C185柜 電話：0769-22311815 傳真：0769-22311815 手機：18922945613 QQ：78515914 |
蘇州市展銷部 地址：蘇州市高新區(qū)濱河路558號(竹園路)蘇州賽格市場1A18柜 電話：0512-68051773 傳真：0512-6805 2773 手機：13584880837 QQ：466219987 |  | 東莞市精探電子 地址：東莞市塘廈鎮(zhèn)平山沿塘路6號101室 電話：0769-82109509 |
 |
隨著半導體測試技術的不斷發(fā)展，高溫晶元測試已經逐漸成為主流，并且測試溫度逐年升高。在不斷改良硬件設施的性能外，如何通過持續(xù)改進工藝制程和參數(shù)來更好的保證高溫晶元測試的穩(wěn)定性和安全性尤為重要 在晶元測試過程中探針卡的探針需要與晶元芯片表面PAD良好接觸以建立起測試機到芯片的電流通路。接觸的深度需要被控制在微米級，按照晶元層結構設計不同，通常在0.5微米到1.5微米之間較適宜。過淺會造成接觸不良導致測試結果不穩(wěn)定，過深則會有潛在的破壞底層電路的風險。而最直接影響接觸深度的物理量就是OD(Over-Drive)。與室溫測試相比，由于整套測試硬件在高溫環(huán)境下會發(fā)生熱膨脹，且在測試過程中會表現(xiàn)出與熱源距離相關的持續(xù)波動性，要保證高溫測試的穩(wěn)定安全，需要一套特殊的工藝
2021-02-05
微信掃一掃
微信公眾號
