推薦一些適合不同測(cè)試場(chǎng)景的探針型號(hào)
文章出處:常見(jiàn)問(wèn)題 責(zé)任編輯:深圳市華榮華電子科技有限公司 閱讀量:- 發(fā)表時(shí)間:2025-09-19 10:18:00
標(biāo)簽:探針 雙頭探針廠(chǎng)家 華榮華探針 燒錄探針
不同測(cè)試場(chǎng)景對(duì)探針的性能和規(guī)格要求各異,以下是一些適合不同測(cè)試場(chǎng)景的探針型號(hào)推薦:
PCB在線(xiàn)測(cè)試(ICT):華榮華SP040探針,針身直徑0.61mm,總長(zhǎng)度35.9mm,額定電流2A,接觸電阻30毫歐姆,適用于一般的在線(xiàn)測(cè)試場(chǎng)景;華榮華SP156探針,直徑2.36mm,額定電流5A,接觸電阻50毫歐姆,可用于對(duì)電流承載能力要求較高的PCB測(cè)試。
PCB功能測(cè)試(FCT):INGUN標(biāo)準(zhǔn)彈簧探針,具有多種針頭形狀和連接方式,可滿(mǎn)足不同的測(cè)試需求;INGUN E-Type?探針,具有較高的預(yù)緊力,能在測(cè)試過(guò)程中確??煽坑|探,適用于臟污表面的觸探。
半導(dǎo)體芯片測(cè)試:會(huì)芯半導(dǎo)體的懸臂探針卡,可支持單排最小40um pad管腳間距,超短懸臂設(shè)計(jì)可應(yīng)用于3GHz@-3dB高速芯片測(cè)試,適用于小間距、鍵合焊線(xiàn)封裝類(lèi)芯片測(cè)試;3D MEMS微懸臂探針卡,如Takumi Probe Card,最小支持30umx30um的Pad尺寸,探針卡壽命超過(guò)100萬(wàn)次,適用于尖端半導(dǎo)體工藝節(jié)點(diǎn)和先進(jìn)封裝的小間距、高針數(shù)等復(fù)雜測(cè)試需求。
射頻測(cè)試:會(huì)芯半導(dǎo)體的Membrane/pProbe射頻探針卡,能夠?qū)崿F(xiàn)超過(guò)80GHz的測(cè)試頻率,具有最小的劃痕度和低電感值,可對(duì)從手機(jī)射頻前端部件到汽車(chē)?yán)走_(dá)芯片的任何射頻應(yīng)用進(jìn)行全面測(cè)試。
大電流測(cè)試:華榮華SP189探針,直徑3.16mm,額定電流5A,可用于需要承載較大電流的測(cè)試場(chǎng)景,如電源模塊測(cè)試等。







