不同測(cè)試場(chǎng)景對(duì)探針的性能和規(guī)格要求各異，以下是一些適合不同測(cè)試場(chǎng)景的探針型號(hào)推薦：

PCB在線(xiàn)測(cè)試（ICT）：華榮華SP040探針，針身直徑0.61mm，總長(zhǎng)度35.9mm，額定電流2A，接觸電阻30毫歐姆，適用于一般的在線(xiàn)測(cè)試場(chǎng)景；華榮華SP156探針，直徑2.36mm，額定電流5A，接觸電阻50毫歐姆，可用于對(duì)電流承載能力要求較高的PCB測(cè)試。

PCB功能測(cè)試（FCT）：INGUN標(biāo)準(zhǔn)彈簧探針，具有多種針頭形狀和連接方式，可滿(mǎn)足不同的測(cè)試需求；INGUN E-Type?探針，具有較高的預(yù)緊力，能在測(cè)試過(guò)程中確?？煽坑|探，適用于臟污表面的觸探。

半導(dǎo)體芯片測(cè)試：會(huì)芯半導(dǎo)體的懸臂探針卡，可支持單排最小40um pad管腳間距，超短懸臂設(shè)計(jì)可應(yīng)用于3GHz@-3dB高速芯片測(cè)試，適用于小間距、鍵合焊線(xiàn)封裝類(lèi)芯片測(cè)試；3D MEMS微懸臂探針卡，如Takumi Probe Card，最小支持30umx30um的Pad尺寸，探針卡壽命超過(guò)100萬(wàn)次，適用于尖端半導(dǎo)體工藝節(jié)點(diǎn)和先進(jìn)封裝的小間距、高針數(shù)等復(fù)雜測(cè)試需求。

射頻測(cè)試：會(huì)芯半導(dǎo)體的Membrane/pProbe射頻探針卡，能夠?qū)崿F(xiàn)超過(guò)80GHz的測(cè)試頻率，具有最小的劃痕度和低電感值，可對(duì)從手機(jī)射頻前端部件到汽車(chē)?yán)走_(dá)芯片的任何射頻應(yīng)用進(jìn)行全面測(cè)試。

大電流測(cè)試：華榮華SP189探針，直徑3.16mm，額定電流5A，可用于需要承載較大電流的測(cè)試場(chǎng)景，如電源模塊測(cè)試等。